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RITG142直線加速器質(zhì)控軟件

產(chǎn)品簡介

RITG142直線加速器質(zhì)控軟件是機器 QA、MLC QA、成像 QA 以及數(shù)據(jù)跟蹤和趨勢分析的一體化解決方案,您需要符合 TG-142 和醫(yī)學(xué)物理學(xué)實用指南 (MPPG) 8.b 的全面 LINAC QA。此外,成像 QA 模型通過易于使用的跟蹤和趨勢分析功能自動評分。

產(chǎn)品型號:
更新時間:2024-10-14
訪問量:168
詳細(xì)介紹
品牌RIT產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域綜合

RITG142直線加速器質(zhì)控軟件詳細(xì)介紹:

TG-142 MPPG 8.b 中推薦的每個基于圖像的測試的單一供應(yīng)商解決方案。使用 EPID RITG142 軟件,自信而輕松地對直線加速器進(jìn)行全面的質(zhì)量保證。

RITG142質(zhì)控軟件,TG142分析軟件是機器 QA、MLC QA、成像 QA 以及數(shù)據(jù)跟蹤和趨勢分析的一體化解決方案,您需要符合 TG-142 和醫(yī)學(xué)物理學(xué)實用指南 (MPPG8.b 的全面 LINAC QA。此外,成像 QA 模型通過易于使用的跟蹤和趨勢分析功能自動評分。

 

機器質(zhì)量保證


RITG142直線加速器質(zhì)控軟件

RITG142直線加速器質(zhì)控軟件LINAC 的每日、每月和年度機器 QA

增強型 3D Winston-Lutz(等中心優(yōu)化)和 Virtual Star Shot*

自動處理一組 EPID Winston-Lutz 圖像,以快速準(zhǔn)確地測量等中心位置。RIT 版本的此測試允許您使用 3 16 張圖像,并為球設(shè)置和圍繞等中心擺動提供誤差估計。增加的角度靈活性使您能夠模擬更多臨床相關(guān)的角度,以確定特定治療配置下的等中心。*美國zhun利9192784、JP Patent 6009705CA Patent 2918045和其他正在申請的國際zhuan利。

立體定向?qū)?zhǔn) 2D Winston-Lutz) 測試

立體定向錐形輪廓

字段對齊


RITG142直線加速器質(zhì)控軟件

光束測量

輻射/光場重合

EPID圖像可以在沒有校準(zhǔn)文件的情況下進(jìn)行分析,并具有自定義的視場大小。中心位置可以通過采取

BB、針刺或使用 L-Rad Phantom。

 

全自動星形分析

非對稱場/匹配線

深度劑量、交叉和正交剖面

電子能 TG-25

圖像直方圖

等劑量輪廓

3D 劑量曲線

快速平整度和對稱性

水箱梁測量分析

導(dǎo)入斷層放療®校準(zhǔn)文件

斷層放療®Accuray, Inc. 的注冊商標(biāo)

MLC質(zhì)量保證

 

Varian LINAC

EPID糾察柵欄測試

此例程可自動執(zhí)行經(jīng)典的糾察柵欄測試。

自動化瓦里安 RapidArc®測試

可以在距離 EPID、膠片或 CR 圖像的任何距離處拍攝圖像。這包括:測試 0.1、0.21.1、1.2、2 3。 RIT RapidArc QA 例程支持 Millennium 120HD120 MLC Halcyon®MLC 模型。

瓦里安葉速試驗

在不使用日志文件的情況下,該測試可測量瓦里安 MLC 葉片速度在成像儀上移動時的一致性和準(zhǔn)確性。

瓦里安·哈爾西恩®MLC分析

執(zhí)行糾察圍欄或全面的 RapidArc®Halcyon的分析®MLC



Elekta LINAC

 

漢考克對醫(yī)科達(dá)機器的測試

漢考克測試(2 圖像測試、4 圖像測試和帶備用鉗口測試)使用 Elekta iView™ 成像儀自動測量葉片位置與等中心位置以及顎葉片后退測量值。

EPID糾察柵欄測試

此例程可自動執(zhí)行經(jīng)典的糾察柵欄測試。

醫(yī)科達(dá)葉速測試

此測試對齊兩張圖像,以分析 Elekta iView™ Agility™ 的葉速一致性。
 

 

其他 MLC 測試

Bayouth MLC分析

分析需要在銀行之間留葉間隙的 MLC。

其他 MLC 測試

其中包括:TG-50 糾察柵欄測試、MSK 葉片測試、瓦里安 DMLC 測試模式和 MLC 傳輸分析。

 

成像 QA

 

EPID QC模塊

RIT長子

EPID QA Phantom - Standard Imaging 制造和銷售。 這些測試包括:5 個區(qū)域的穩(wěn)定性、分辨率 (MTF)、幾何失真、均勻性、對比度和噪點。

PTW電子元

拉斯維加斯EPID

標(biāo)準(zhǔn)成像 QC-3

 

卡坦®kV 和錐形梁模塊

瓦里安 504 CATPHAN

瓦里安 604 CATPHAN

醫(yī)科達(dá) 503 CATPHAN

西門子圖像質(zhì)量 Phantom

 

DR/CR kV模塊

IBA PrimusIBA普里姆斯酒店)®L

PTW 諾米®4

20x20厘米和30x30厘米)

利茲 TOR-18 FG

標(biāo)準(zhǔn)成像 QC-kV1

 

kV/MV模塊

標(biāo)準(zhǔn)成像 ISOCube

五角星指南

 

基本模塊

DICOM圖像查看器

DICOM 標(biāo)簽查看器

圖像導(dǎo)入:DICOM 目錄瀏覽器、打開目錄瀏覽器、DICOM 文件過濾器

手動測量:距離、角度、輪廓、直方圖、圓形和方形 ROI 以及輪廓的 ASCII 輸出

輸出格式:打印、PDF 導(dǎo)出、帶有自定義模板的 Excel 導(dǎo)出

監(jiān)控圖像質(zhì)量

圖像傳輸

自定義公差管理

使用公差管理器為所有自動模型分析中使用的每個測量設(shè)置公差值和通過/失敗標(biāo)準(zhǔn)。該工具提供了在各種 LINAC 和成像系統(tǒng)上自定義公差所需的靈活性:

在易于使用的面板中方便地設(shè)置和切換公差,該面板位于主界面中,并顯示在每個模型分析例程中。

為分析及其相應(yīng)報告設(shè)置自己的通過/失敗標(biāo)準(zhǔn),允許在所有成像 QA 分析中進(jìn)行wan全定制。

偏好配置文件和公差是根據(jù)每臺機器設(shè)置的。它們可以針對使用中的每臺機器進(jìn)行精確定制。

將所有通過/失敗容差數(shù)據(jù)傳輸?shù)?/span>RIT趨勢數(shù)據(jù)庫,以進(jìn)行統(tǒng)計跟蹤和趨勢分析

 

其他測量

用于 QA 的電影劑量測定

放射致變色和放射致變色膠片,配備Vidar和平板掃描儀

平板非均勻性校正

放射致變色膠片均勻性校正

用于Vidar和平板掃描儀的2D掃描儀空間校準(zhǔn)

通用映像文件導(dǎo)入

Vidar 掃描儀接口(Vidar 掃描儀控制中心)

校準(zhǔn)

MLC標(biāo)定技術(shù)
zhuan利:EP 1318857、CA 2418232、JP 3817176US 6675116、US 6934653 US 7013228。

用于Vidar和平板掃描儀的2D掃描儀空間校準(zhǔn)

垂直劑量校準(zhǔn)

校準(zhǔn)文件合并

EPID 質(zhì)量保證

導(dǎo)入用于 QA EPID 映像

縮放瓦里安 EPID DICOM 圖像

一般特征

圖像合成器

DICOM 匿名器

針刺、擦除和 ROI 工具

每個分析程序的 PDF 報告

基于云的軟件許可

 

 


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