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RT CT-01分辨率測試卡

產(chǎn)品簡介

RT CT-01分辨率測試卡(日本檢測儀器制造商協(xié)會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質量。

產(chǎn)品型號:
更新時間:2024-10-21
訪問量:104
詳細介紹
品牌為爾康產(chǎn)地類別進口
應用領域綜合




JIMA(日本檢測儀器制造商協(xié)會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質量。

JIMA RT CT-01分辨率測試卡(專用于三維CT系統(tǒng)分辨率測試)

測試卡封裝在一個防護盒中

圖案布局:T型

線/空間尺寸:5種規(guī)格圖案,

                      3μm,4μm,5μm,6μm,7μm

RT CT-01分辨率測試卡



JIMA RT RC-04分辨率測試卡

測試卡封裝在一個防護盒中

盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm

芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm

圖案布局:T型

線/空間尺寸:32種規(guī)格圖案,

0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,

0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,

RT CT-01分辨率測試卡




 JIMA RT RC-02分辨率測試卡

測試卡封裝在一個防護盒中

盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm

芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm

圖案布局:L型

線/空間尺寸: 16種規(guī)格圖案,

0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,

2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

RT CT-01分辨率測試卡




JIMA RT RC-05分辨率測試卡

測試卡封裝在一個防護盒中

盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm

芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm

圖案布局:T型 (3-10μm)

I 型 (15-50μm)

線/空間尺寸:16種規(guī)格圖案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)

15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)


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